國產(chǎn)順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器簡介：
X射線熒光(XRF)技術(shù)是當(dāng)今*主要的分析測試技術(shù)之一，具有元素范圍廣（B-U）、動態(tài)范圍寬（ppm-****）、檢出下限低、精度高、速度快、自動化、無損測試、制樣簡單、多元素同時測定等諸多優(yōu)點，與ICP-AES、ICP-MS并稱無機多元素測試技術(shù)領(lǐng)域的三大支柱。
在科技部**重大科學(xué)儀器專項（2012YQ050076）的支持下，針對金屬、建材、地質(zhì)、環(huán)境、礦產(chǎn)等領(lǐng)域?qū)o機元素分析技術(shù)的需求，廠家先后攻克了X射線源、分光光路系統(tǒng)、探測器等關(guān)鍵技術(shù)，成功研制了順序式波長色散X射線熒光光譜儀——CNX-808。
基于國產(chǎn)順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808，納克與**地質(zhì)實驗測試中心等多家**測試機構(gòu)合作，**了適合各行業(yè)的分析測試方法，建立了針對金屬、地質(zhì)、建材、環(huán)境、礦物等領(lǐng)域多種類型樣品的方法體系。
國產(chǎn)順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808應(yīng)用領(lǐng)域：
地質(zhì)樣品領(lǐng)域：
CNX-808針對地質(zhì)領(lǐng)域壓片和熔片兩類樣品分別**了應(yīng)用方法體系，可以為地質(zhì)研究、找礦提供可靠的檢測數(shù)據(jù)。
建材樣品領(lǐng)域：
國產(chǎn)順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808針對多種建材樣品的分析需求，建立了水泥、涂料等樣品應(yīng)用方法體系，實現(xiàn)對樣品的高精度分析。
新材料樣品領(lǐng)域：
CNX-808能夠解決新材料研究領(lǐng)域?qū)挿o損、全元素分布分析的難題。
生態(tài)環(huán)境領(lǐng)域：
CNX-808針對生態(tài)環(huán)境中的土壤、植物、水系沉積物、空氣顆粒物等樣品的分析需求，建立了整體的解決方案。通過研究不同時期形成的土壤層、沉積層中的有害重金屬元素含量分布特征，為環(huán)境評價提供可靠的指標(biāo)參數(shù)。
國產(chǎn)順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器特點：
高穩(wěn)定高精度X射線源：
4kW大功率高壓發(fā)生器，**更低的檢測下限和更快的分析速度；優(yōu)化的功率自動調(diào)節(jié)程序，能夠快速調(diào)整功率，監(jiān)控X射線管狀態(tài)，提高使用壽命；一體化冷卻水機，提供對X射線管更可靠的保護(hù)。
優(yōu)良的光路設(shè)計：
光程短，有利于獲得更大的計數(shù)率。提供*多10組濾光片、10組光闌、4組初級準(zhǔn)直器、10組分光晶體的配置。
波譜能譜復(fù)合功能（選配）
波譜能譜復(fù)合可以提高數(shù)據(jù)質(zhì)量和檢測速度，選配的SDD探測器，提供更加靈活的分析手段，兩種功能深度復(fù)合。分布分析時，可以根據(jù)實際需求，任選一種探測器。
可靠的高精度測角儀：
θ/2θ單獨驅(qū)動，測角儀采用成熟可靠的傳動和反饋技術(shù)，在**性能優(yōu)異的同時，具有可靠性高、使用壽命長等特點。
便捷強大的分析測試軟件:
界面友好，操作便捷，內(nèi)置多種算法，全自動化測試過程，滿足定量定性分析需要。
國產(chǎn)順序式波長色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器參數(shù)：
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波長色散X射線熒光光譜儀指標(biāo) |
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硬件配置 |
高壓發(fā)生器 |
*大電壓：60kV |
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*大電流：150mA |
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*大功率：4kW |
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長期穩(wěn)定度：0.01% |
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X射線管 |
端窗 |
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可選靶材：Rh、Cu、Mo、W、Cr、Pt |
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鈹窗厚度：75μm/50μm可選 |
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自動進(jìn)樣器 |
1位/48位可選，機械手自動進(jìn)樣系統(tǒng) |
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樣品尺寸 |
固體，*大φ50mm*H30mm |
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樣品臺 |
*坐標(biāo)定位、帶自旋功能 |
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初級濾光片 |
Ti、Zr、Cu、Al等多種材質(zhì)和厚度可選，*多可配10片 |
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光闌 |
φ35,30,25,20,10,3,1,0.5mm及衰減器 |
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初級準(zhǔn)直器 |
150、300、500、750、3000μm可選，做多可配4種 |
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測角儀 |
θ－2θ獨立驅(qū)動 |
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掃描范圍：SC（1-118°）、PC（10-148°） |
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步進(jìn)角度：0.001°、0.002°、0.005°、0.01°、0.02°、0.05°、0.1° |
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角度重復(fù)性：±0.0005° |
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角度精度：±0.0005° |
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分光晶體 |
10位晶體交換器，liF200、LiF220、PET、Ge、多層膜晶體等可選 |
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探測器 |
閃爍體計數(shù)器（SC）、正比式流氣計數(shù)器（F-PC） |
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恒溫器 |
36.5±0.1℃ |
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真空系統(tǒng) |
分析室和進(jìn)樣室雙真空 |
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選配件 |
分析室充He氣系統(tǒng)（分析液體樣品的氣氛） |
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能譜探測器SDD，可與波譜復(fù)合使用，提高檢測效率 |
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樣品CCD照相系統(tǒng)，配合分布分析使用 |
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儀器指標(biāo) |
達(dá)到《JJG 810-1993 波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程》A級 |
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